Strength and fracture of Si micropillars: A new scanning electron microscopy-based micro-compression test
2007
Fichiers
Détails
Titre
Strength and fracture of Si micropillars: A new scanning electron microscopy-based micro-compression test
Auteur(s)
Moser, B. ; Wasmer, K. ; Barbieri, L. ; Michler, J.
Publié dans
Journal of Materials Research
Volume
22
Numéro
4
Pages
1004-1011
Date
2007
Editeur
Cambridge, Cambridge University Press
ISSN
0884-2914
2044-5326
2044-5326
Note
National Licences
Laboratoires
LIB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LIB - Laboratoire d'imagerie biomédicale
Production scientifique et compétences > Euler Center for Signal Processing
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2019-08-23