Imaging of GaAs Nanowire Using Combined Aberration-corrected TEM/STEM and Exit Wave Restoration
2009
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Détails
Titre
Imaging of GaAs Nanowire Using Combined Aberration-corrected TEM/STEM and Exit Wave Restoration
Auteur(s)
Chang, L-Y ; Lazar, S ; Bártová, B ; Botton, Ga ; Hébert, C ; Fontcuberta i Morral, Anna
Publié dans
Microscopy and Microanalysis
Volume
15
Numéro
S2
Pages
138-139
Date
2009
ISSN
1431-9276
1435-8115
1435-8115
Note
National Licences
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IMX - Institut des matériaux > LMSC - Laboratoire des matériaux semiconducteurs
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2019-08-23