Titre
Focused Ion Beam Nano-Tomography Using Different Detectors
Publié dans
Microscopy and Microanalysis
Volume
17
Numéro
S2
Pages
882-883
Date
2011
Editeur
Cambridge, Cambridge University Press
ISSN
1431-9276
1435-8115
Note
National Licences
Date de création de la notice
2019-08-23