3D EDX Microanalysis by FIB-SEM: Enhancement of Elemental Quantification
2011
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Détails
Titre
3D EDX Microanalysis by FIB-SEM: Enhancement of Elemental Quantification
Auteur(s)
Burdet, P ; Hébert, C ; Cantoni, M
Publié dans
Microscopy and Microanalysis
Volume
17
Numéro
S2
Pages
960-961
Date
2011
Editeur
Cambridge, Cambridge University Press
ISSN
1431-9276
1435-8115
1435-8115
Note
National Licences
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
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Date de création de la notice
2019-08-23