sample holder for low-temperature insitu deformation tests in 200 kv transmission electron-microscope
1979
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Détails
Titre
sample holder for low-temperature insitu deformation tests in 200 kv transmission electron-microscope
Auteur(s)
GOTTHARDT, R ; BUFFAT, P
Publié dans
Helvetica Physica Acta
Volume
52
Numéro
1
Pages
30
Date
1979
ISSN
0018-0238
Lien supplémentaire
E-Periodica
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2019-07-04