Détails
Titre
low-temperature deformation in 200 kev electron-microscope
Auteur(s)
GOTTHARDT, R ; BUFFAT, P
Publié dans
Journal de microscopie et de spectroscopie électroniques
Volume
4
Numéro
3
Pages
A24
Date
1979
ISSN
0395-9279
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2019-07-04