Transmission and Reflection Electron Microscopy on Cleaved Edges of III-V Multilayered Structures
1989
Détails
Titre
Transmission and Reflection Electron Microscopy on Cleaved Edges of III-V Multilayered Structures
Auteur(s)
Buffat, Philippe-André ; Ganière, Jean-Daniel ; Stadelmann, Pierre
Publié dans
NATO ASI Series
Editeur(s)
Volume
203
Pages
319-334
Présenté à
Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, Wills Hall, Bristol, UK, 11-17 September 1988
Date
1989
Editeur
NATO
ISBN
0-306-43362-1
Autres identifiant(s)
DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4613-0527-9_23
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2019-07-04