Erratum: Influence of the thickness of a nanometric copper interlayer on Au/dielectric thermal boundary conductance (vol 124, 105304, 2018)
2019
Détails
Titre
Erratum: Influence of the thickness of a nanometric copper interlayer on Au/dielectric thermal boundary conductance (vol 124, 105304, 2018)
Auteur(s)
Blank, Maite ; Weber, Ludger
Publié dans
Journal Of Applied Physics
Volume
125
Numéro
14
Pages
149901
Date
2019-04-14
Editeur
Melville, AMER INST PHYSICS
ISSN
0021-8979
1089-7550
1089-7550
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
LMM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IMX - Institut des matériaux > LMM - Laboratoire de métallurgie mécanique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2019-04-28