Structural analysis of LaVO3 thin films under epitaxial strain
2018
Fichiers
Détails
Titre
Structural analysis of LaVO3 thin films under epitaxial strain
Auteur(s)
Meley, H ; Karandeep ; Oberson, L ; de Bruijckere, J ; Alexander, DTL ; Triscone, JM ; Ghosez, P ; Gariglio, S
Publié dans
Apl Materials
Volume
6
Numéro
4
Pages
046102
Date
2018
Note
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Laboratoires
LSME
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LSME - Laboratoire de spectrométrie et microscopie électronique
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Date de création de la notice
2018-11-08