Surface Defect Passivation of Silicon Micropillars
2018
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Détails
Titre
Surface Defect Passivation of Silicon Micropillars
Auteur(s)
Mikulik, Dmitry ; Meng, Andrew C. ; Berrazouane, Riad ; Stückelberger, Josua ; Romero-Gomez, Pablo ; Tang, Kechao ; Haug, Franz-Josef ; Fontcuberta i Morral, Anna ; McIntyre, Paul C.
Publié dans
Advanced Materials Interfaces
Volume
5
Numéro
20
Pages
1800865
Date
2018-08-15
Autres identifiant(s)
DOI: https://doi.org/10.1002/admi.201800865
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > PV-LAB - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IMX - Institut des matériaux > LMSC - Laboratoire des matériaux semiconducteurs
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > PV-Lab - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Grant
FNS: P1ELP2‐172279
FNS: 200021‐172547
US foundations: DMR‐1608927.
FNS: 200021‐172547
US foundations: DMR‐1608927.
Date de création de la notice
2018-08-27