Details
Title
CIME
Formal Name (French)
Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Formal Name (English)
Interdisciplinary Center for Electron Microscopy
Lab Manager
Cantoni, Marco
Group ID
U10192
Affiliated authors
Accardo, Nicola
Aebersold, Arthur Brian
Alkauskas, Audrius
Andrzejczuk, Mariusz
Baborowski, Jacek
Baluc, Nadine
Baroz, Grégoire
Bazzoni, Amélie
Bettex, Jérémie
Bobard, Fabienne
Boureau, Victor
Brioude, Arnaud
Buffat, Philippe
Burdet, Pierre
Bártová, Barbora
Béguelin, Philippe
Calderone, Caroline
Cali, Corrado
Cantoni, Marco
Christmann, Gabriel
Colla, Enrico
Constantin, Christophe
Crevoiserat, Sybille
Czyrska-Filemonowicz, Aleksandra
Deiana, Davide
Demurtas, Davide
Dennenwaldt, Teresa Katharina
Feltin, Eric
Fiore, Andrea
Garcia Gonzalez, Marina
Gauthey, Arnaud Merlin
Gjoni Boillat, Marinela
Gopalakrishnan, Gopakumar
Gradecak, Silvija
Grein, Christelle
Gysel, Roman
Hasanzadeh, Soheil
Hoffmann, Patrik
Ilegems, Marc
Infortuna, Anna
Kiwi, Lioubov
Kulik, Andrzej
Kupper, Christine
Landucci, Federica
Laporte, Vincent
Laub, Danièle
Ledermann, Nicolas
Lee, Kyumin
Leifer, Klaus
Lelarge, François
Lucas, Guillaume
Maclachlan, Catherine
Moinon, Isabelle
Mouti, Anas
Muralt, Paul
Nabiei, Farhang
Navratilova, Lucie
Nazarov, Sergey
Oesterle, Ursula
Oveisi, Emad
Parra Cardona, Sandra
Pasche, Guillaume
Pellet, Diane
Piet, Hélène
Plocinski, Tomasz Piotr
Prokhodtseva, Anna
Périllat-Merceroz, Guillaume
Ravaux, Florent
Renken, Albert
Reyes Vasquez, David Fernando
Sahlender, Daniela Andrea
Sandu, Silviu Cosmin
Schneider, Simon
Schuler, Josef Andreas
Segura, Jean-Manuel
Seifert, Andreas
Semagina, Natalia
Spadaro, Maria Chiara
Stadelmann, Pierre
Suvorova Buffat, Elena
Suyal, Ganesh
Tagantsev, Alexander
Templier, Thomas
Therisod, Rita
Thuillard, Mélanie
Traversa Gentil, Sandrine
Utke, Ivo
Vaideeswaran, Kaushik
Vallotton, Colette
van den Bergh, Hubert
Vannod, Jonas
Wagner, Volker
Zamani, Reza
Zulliger, Martin
Aebersold, Arthur Brian
Alkauskas, Audrius
Andrzejczuk, Mariusz
Baborowski, Jacek
Baluc, Nadine
Baroz, Grégoire
Bazzoni, Amélie
Bettex, Jérémie
Bobard, Fabienne
Boureau, Victor
Brioude, Arnaud
Buffat, Philippe
Burdet, Pierre
Bártová, Barbora
Béguelin, Philippe
Calderone, Caroline
Cali, Corrado
Cantoni, Marco
Christmann, Gabriel
Colla, Enrico
Constantin, Christophe
Crevoiserat, Sybille
Czyrska-Filemonowicz, Aleksandra
Deiana, Davide
Demurtas, Davide
Dennenwaldt, Teresa Katharina
Feltin, Eric
Fiore, Andrea
Garcia Gonzalez, Marina
Gauthey, Arnaud Merlin
Gjoni Boillat, Marinela
Gopalakrishnan, Gopakumar
Gradecak, Silvija
Grein, Christelle
Gysel, Roman
Hasanzadeh, Soheil
Hoffmann, Patrik
Ilegems, Marc
Infortuna, Anna
Kiwi, Lioubov
Kulik, Andrzej
Kupper, Christine
Landucci, Federica
Laporte, Vincent
Laub, Danièle
Ledermann, Nicolas
Lee, Kyumin
Leifer, Klaus
Lelarge, François
Lucas, Guillaume
Maclachlan, Catherine
Moinon, Isabelle
Mouti, Anas
Muralt, Paul
Nabiei, Farhang
Navratilova, Lucie
Nazarov, Sergey
Oesterle, Ursula
Oveisi, Emad
Parra Cardona, Sandra
Pasche, Guillaume
Pellet, Diane
Piet, Hélène
Plocinski, Tomasz Piotr
Prokhodtseva, Anna
Périllat-Merceroz, Guillaume
Ravaux, Florent
Renken, Albert
Reyes Vasquez, David Fernando
Sahlender, Daniela Andrea
Sandu, Silviu Cosmin
Schneider, Simon
Schuler, Josef Andreas
Segura, Jean-Manuel
Seifert, Andreas
Semagina, Natalia
Spadaro, Maria Chiara
Stadelmann, Pierre
Suvorova Buffat, Elena
Suyal, Ganesh
Tagantsev, Alexander
Templier, Thomas
Therisod, Rita
Thuillard, Mélanie
Traversa Gentil, Sandrine
Utke, Ivo
Vaideeswaran, Kaushik
Vallotton, Colette
van den Bergh, Hubert
Vannod, Jonas
Wagner, Volker
Zamani, Reza
Zulliger, Martin
Faculty
SB
Note
Members of CIME (CIME-GE, CIME)
Linked resource
http://cime.epfl.ch/
Publications
DIFPAT: Un programme pour le traçage de projections stéréographiques, de figures de diffraction et de diagrammes de poudre en microscopie électro[...]
Détermination du taux de contamination de l'air par l'aimante
Elektrische und strukturelle eigenschaften von VxTi1-xSe2
Etude par microscopie électronique de couches supraconductrices de structure A15 des systèmes Nb-Sn et Nb-Si
Ferroelectric domains and dislocations in KTa1-xbxO3 investigated by Electron Microscopy
MASTER: un éditeur pour la simulation et l'interprétation des images de colonnes atomiques
Observation par microscopie électronique (MET) de la transformation martensitique d'un alliage Au-Cu-Zn
Structure and strain of the crystalline lattice of small and platinium paricles
The Double Kink Generation model, a good explanation for the Bordoni relaxation in high purity FCC metals
Un éditeur pour la simulation et l'analyse des images de la microscopie électronique à transmission
See complete list of publications (926)
Détermination du taux de contamination de l'air par l'aimante
Elektrische und strukturelle eigenschaften von VxTi1-xSe2
Etude par microscopie électronique de couches supraconductrices de structure A15 des systèmes Nb-Sn et Nb-Si
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MASTER: un éditeur pour la simulation et l'interprétation des images de colonnes atomiques
Observation par microscopie électronique (MET) de la transformation martensitique d'un alliage Au-Cu-Zn
Structure and strain of the crystalline lattice of small and platinium paricles
The Double Kink Generation model, a good explanation for the Bordoni relaxation in high purity FCC metals
Un éditeur pour la simulation et l'analyse des images de la microscopie électronique à transmission
See complete list of publications (926)
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