Measurement of the branching fraction and CP asymmetry in B-0 -> pi(0)pi(0) decays, and an improved constraint on phi(2)
Julius, T.; Sevior, M. E.; Mohanty, G. B.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Barberio, E.; Barrett, M.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bloomfield, T.; Bobrov, A.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Chao, Y.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dossett, D.; Drasal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gillard, R.; Goldenzweig, P.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Hsu, C-L; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jaegle, I.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Karyan, G.; Katrenko, P.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Krohn, J. F.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Li, C. H.; Li, L.; Li, Y.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Luo, T.; Macnaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, C-S; Park, H.; Pesantez, L.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Pulvermacher, C.; Ritter, M.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Shebalin, V.; Shibata, T-A; Shiu, J-G.; Shwartz, B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Sumiyoshi, T.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Van Hulse, C.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Widmann, E.; Williams, K. M.; Won, E.; Yamashita, Y.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A.; Belle Collaboration
2017

Résumé

We measure the branching fraction and CP violation asymmetry in the decay B-0 -> pi(0)pi(0), using a data sample of 752 x 10(6) B (B) over bar pairs collected at the Y(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB e(+)e(-) collider. The obtained branching fraction and direct CP asymmetry are B(B -> pi(0)pi(0)) = [1.31 +/- 0.19(stat) +/- 0.19(syst)] x 10(-6) and A(CP) = +0.14 +/- 0.36(stat) +/- 0.10(syst), respectively. The signal significance, including the systematic uncertainty, is 6.4 standard deviations. We combine these results with Belle's earlier measurements of B-0 -> pi(+)pi(-) and B-+/- -> pi(+/-)pi(0) to exclude the CP-violating parameter phi(2) from the range 15.5 degrees < phi(2) < 75.0 degrees at 95% confidence level.

Détails

Titre Measurement of the branching fraction and CP asymmetry in B-0 -> pi(0)pi(0) decays, and an improved constraint on phi(2)
Auteur(s) Julius, T. ; Sevior, M. E. ; Mohanty, G. B. ; Adachi, I. ; Aihara, H. ; Al Said, S. ; Asner, D. M. ; Aulchenko, V. ; Aushev, T. ; Ayad, R. ; Babu, V. ; Badhrees, I. ; Bakich, A. M. ; Bansal, V. ; Barberio, E. ; Barrett, M. ; Berger, M. ; Bhardwaj, V. ; Bhuyan, B. ; Biswal, J. ; Bloomfield, T. ; Bobrov, A. ; Bondar, A. ; Bonvicini, G. ; Bozek, A. ; Bracko, M. ; Browder, T. E. ; Cervenkov, D. ; Chang, M-C ; Chao, Y. ; Chekelian, V. ; Chen, A. ; Cheon, B. G. ; Chilikin, K. ; Cho, K. ; Choi, Y. ; Cinabro, D. ; Dash, N. ; Di Carlo, S. ; Dolezal, Z. ; Dossett, D. ; Drasal, Z. ; Dutta, D. ; Eidelman, S. ; Farhat, H. ; Fast, J. E. ; Ferber, T. ; Fulsom, B. G. ; Gaur, V. ; Gabyshev, N. ; Garmash, A. ; Gillard, R. ; Goldenzweig, P. ; Haba, J. ; Hara, T. ; Hayasaka, K. ; Hayashii, H. ; Hou, W-S ; Hsu, C-L ; Iijima, T. ; Inami, K. ; Ishikawa, A. ; Itoh, R. ; Iwasaki, Y. ; Jacobs, W. W. ; Jaegle, I. ; Jin, Y. ; Joffe, D. ; Joo, K. K. ; Kahn, J. ; Karyan, G. ; Katrenko, P. ; Kawasaki, T. ; Kiesling, C. ; Kim, D. Y. ; Kim, H. J. ; Kim, J. B. ; Kim, K. T. ; Kim, M. J. ; Kim, S. H. ; Kim, Y. J. ; Kinoshita, K. ; Kodys, P. ; Korpar, S. ; Kotchetkov, D. ; Krizan, P. ; Krokovny, P. ; Krohn, J. F. ; Kuhr, T. ; Kulasiri, R. ; Kuzmin, A. ; Kwon, Y-J ; Lange, J. S. ; Lee, I. S. ; Li, C. H. ; Li, L. ; Li, Y. ; Li Gioi, L. ; Libby, J. ; Liventsev, D. ; Luo, T. ; Macnaughton, J. ; Masuda, M. ; Matsuda, T. ; Merola, M. ; Miyabayashi, K. ; Miyata, H. ; Mizuk, R. ; Moon, H. K. ; Mori, T. ; Mussa, R. ; Nakano, E. ; Nakao, M. ; Nanut, T. ; Nath, K. J. ; Natkaniec, Z. ; Nayak, M. ; Nisar, N. K. ; Nishida, S. ; Ogawa, S. ; Ono, H. ; Pakhlov, P. ; Pakhlova, G. ; Pal, B. ; Pardi, S. ; Park, C-S ; Park, H. ; Pesantez, L. ; Pestotnik, R. ; Piilonen, L. E. ; Pulvermacher, C. ; Ritter, M. ; Sahoo, H. ; Sakai, Y. ; Salehi, M. ; Sandilya, S. ; Santelj, L. ; Sanuki, T. ; Sato, Y. ; Savinov, V. ; Schneider, O. ; Schnell, G. ; Schwanda, C. ; Schwartz, A. J. ; Seino, Y. ; Senyo, K. ; Shebalin, V. ; Shibata, T-A ; Shiu, J-G. ; Shwartz, B. ; Sokolov, A. ; Solovieva, E. ; Staric, M. ; Sumiyoshi, T. ; Tamponi, U. ; Tanida, K. ; Tenchini, F. ; Trabelsi, K. ; Uchida, M. ; Uehara, S. ; Uglov, T. ; Unno, Y. ; Uno, S. ; Urquijo, P. ; Usov, Y. ; Van Hulse, C. ; Varner, G. ; Varvell, K. E. ; Vossen, A. ; Waheed, E. ; Wang, C. H. ; Wang, M-Z ; Wang, P. ; Watanabe, M. ; Watanabe, Y. ; Widmann, E. ; Williams, K. M. ; Won, E. ; Yamashita, Y. ; Ye, H. ; Yuan, C. Z. ; Yusa, Y. ; Zhang, Z. P. ; Zhilich, V. ; Zhulanov, V. ; Zupanc, A. ; Belle Collaboration
Publié dans Physical Review D
Pagination 8
Volume 96
Numéro 3
Pages 032007
Date 2017
Editeur College Pk, Amer Physical Soc
ISSN 2470-0010
DOI https://doi.org/10.1103/PhysRevD.96.032007
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Laboratoires LPHE
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Date de création de la notice 2017-10-09

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