An Optical Punch-Through Diode and Gate Biasing 1-T Pixel for Binary Pixels in Fully Digital CMOS Image Sensors
2013
Détails
Titre
An Optical Punch-Through Diode and Gate Biasing 1-T Pixel for Binary Pixels in Fully Digital CMOS Image Sensors
Auteur(s)
Yoon, Hyungjune ; Charbon, Edoardo
Présenté à
Intl. Image Sensor Workshop (IISW), Snowbird Resort, Utah, USA, June 12-16, 2013
Date
2013
Laboratoires
AQUA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > AQUA - Quantum Architecture Group
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > AQUA - Quantum Architecture Group
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Publié
Date de création de la notice
2013-12-11