Precise dielectric property measurements and E-field probe calibration for specific absorption rate measurements using a rectangular waveguide
2009
Détails
Titre
Precise dielectric property measurements and E-field probe calibration for specific absorption rate measurements using a rectangular waveguide
Auteur(s)
Hakim, Bandat ; Beard, Brian ; Davis, Christopher
Publié dans
Measurement Science and Technology
Volume
20
Numéro
4
Pages
045702
Date
2009
ISSN
1361-6501
Laboratoires
IMT
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > IMT - Institut de Microtechnique
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Date de création de la notice
2013-02-24