Enhanced Wafer Matching Heuristics for 3-D ICs


Publié dans:
Proceedings of the IEEE 17th European Test Symposium, 178
Présenté à:
IEEE 17th European Test Symposium, Annecy, France, May 28- June 1, 2012
Année
2012
Publisher:
New York, Ieee
ISBN:
978-1-4673-0697-3
Laboratoires:




 Notice créée le 2012-07-20, modifiée le 2018-09-13

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