Characterization of Large-Scale Non-Uniformities in a 20k TDC/SPAD Array Integrated in a 130nm CMOS Process
2011
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Détails
Titre
Characterization of Large-Scale Non-Uniformities in a 20k TDC/SPAD Array Integrated in a 130nm CMOS Process
Auteur(s)
Veerappan, C. ; Richardson, J. ; Walker, R. ; Li, D. U. ; Fishburn, M. W. ; Stoppa, D. ; Borghetti, F. ; Maruyama, Y. ; Gersbach, M. ; Henderson, R. K. ; Bruschini, C. ; Charbon, E.
Publié dans
Proc. IEEE European Solid-State Electron Device Conference (ESSDERC)
Pages
331-334
Présenté à
IEEE European Solid-State Electron Device Conference (ESSDERC), September, 2011
Date
2011
Laboratoires
AQUA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > AQUA - Quantum Architecture Group
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > AQUA - Quantum Architecture Group
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
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Date de création de la notice
2012-06-12