Precise Measurement of the CP Violation Parameter sin2 phi(1) in B-0 -> (c(c)over-bar) K-0 Decays
Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Aziz, T.; Bakich, A. M.; Bay, A.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bischofberger, M.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Chen, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chistov, R.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Dolezal, Z.; Drasal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Goh, Y. M.; Golob, B.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y. B.; Hyun, H. J.; Iijima, T.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Iwashita, T.; Julius, T.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, H. J.; Kim, H. O.; Kim, J. B.; Kim, J. H.; Kim, K. T.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Ko, B. R.; Koblitz, S.; Kodys, P.; Korpar, S.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, S.-H.; Li, J.; Li, Y.; Liu, C.; Liu, Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Louvot, R.; Matvienko, D.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Muramatsu, N.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Neubauer, S.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Onuki, Y.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, H. K.; Park, K. S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Petric, M.; Piilonen, L. E.; Poluektov, A.; Rohrken, M.; Rozanska, M.; Sahoo, H.; Sakai, K.; Sakai, Y.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Senyo, K.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Tanaka, S.; Tatishvili, G.; Teramoto, Y.; Tikhomirov, I.; Trabelsi, K.; Tsuboyama, T.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Williams, K. M.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zupanc, A.; Zyukova, O.
2012

Abstract

We present a precise measurement of the CP violation parameter sin2 phi(1) and the direct CP violation parameter A(f) using the final data sample of 772 x 10(6) B (B) over bar pairs collected at the gamma(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+) e(-) collider. One neutral B meson is reconstructed in a J/psi K-S(0), psi(2S)K-S(0), chi K-c1(S)0, or J/psi K-L(0) CP eigenstate an(its flavor is identified from the decay products of the accompanying B meson. From the distribution of proper-time intervals between the two B decays, we obtain the following CP violation parameters: sin2 phi(1) 0.667 +/- 0.023(stat) +/- 0.012(syst) and A(f) = 0.006 +/- 0.016(stat) +/- 0.012(syst).

Details

Title Precise Measurement of the CP Violation Parameter sin2 phi(1) in B-0 -> (c(c)over-bar) K-0 Decays
Author(s) Adachi, I. ; Aihara, H. ; Asner, D. M. ; Aulchenko, V. ; Aushev, T. ; Aziz, T. ; Bakich, A. M. ; Bay, A. ; Bhardwaj, V. ; Bhuyan, B. ; Bischofberger, M. ; Bondar, A. ; Bozek, A. ; Bracko, M. ; Browder, T. E. ; Chen, P. ; Cheon, B. G. ; Chilikin, K. ; Chistov, R. ; Cho, K. ; Choi, S.-K. ; Choi, Y. ; Dalseno, J. ; Danilov, M. ; Dolezal, Z. ; Drasal, Z. ; Eidelman, S. ; Epifanov, D. ; Fast, J. E. ; Gaur, V. ; Gabyshev, N. ; Garmash, A. ; Goh, Y. M. ; Golob, B. ; Haba, J. ; Hara, K. ; Hara, T. ; Hayasaka, K. ; Hayashii, H. ; Higuchi, T. ; Horii, Y. ; Hoshi, Y. ; Hou, W.-S. ; Hsiung, Y. B. ; Hyun, H. J. ; Iijima, T. ; Ishikawa, A. ; Itoh, R. ; Iwabuchi, M. ; Iwasaki, Y. ; Iwashita, T. ; Julius, T. ; Kapusta, P. ; Katayama, N. ; Kawasaki, T. ; Kichimi, H. ; Kiesling, C. ; Kim, H. J. ; Kim, H. O. ; Kim, J. B. ; Kim, J. H. ; Kim, K. T. ; Kim, Y. J. ; Kinoshita, K. ; Ko, B. R. ; Koblitz, S. ; Kodys, P. ; Korpar, S. ; Krizan, P. ; Krokovny, P. ; Kuhr, T. ; Kumar, R. ; Kumita, T. ; Kuzmin, A. ; Kwon, Y.-J. ; Lange, J. S. ; Lee, S.-H. ; Li, J. ; Li, Y. ; Liu, C. ; Liu, Y. ; Liu, Z. Q. ; Liventsev, D. ; Louvot, R. ; Matvienko, D. ; McOnie, S. ; Miyabayashi, K. ; Miyata, H. ; Miyazaki, Y. ; Mizuk, R. ; Mohanty, G. B. ; Mori, T. ; Muramatsu, N. ; Nakano, E. ; Nakao, M. ; Nakazawa, H. ; Neubauer, S. ; Nishida, S. ; Nishimura, K. ; Nitoh, O. ; Ogawa, S. ; Ohshima, T. ; Okuno, S. ; Olsen, S. L. ; Onuki, Y. ; Ozaki, H. ; Pakhlov, P. ; Pakhlova, G. ; Park, H. K. ; Park, K. S. ; Pedlar, T. K. ; Pestotnik, R. ; Petric, M. ; Piilonen, L. E. ; Poluektov, A. ; Rohrken, M. ; Rozanska, M. ; Sahoo, H. ; Sakai, K. ; Sakai, Y. ; Sanuki, T. ; Sato, Y. ; Schneider, O. ; Schwanda, C. ; Schwartz, A. J. ; Senyo, K. ; Shebalin, V. ; Shen, C. P. ; Shibata, T.-A. ; Shiu, J.-G. ; Shwartz, B. ; Sibidanov, A. ; Simon, F. ; Singh, J. B. ; Smerkol, P. ; Sohn, Y.-S. ; Sokolov, A. ; Solovieva, E. ; Stanic, S. ; Staric, M. ; Sumihama, M. ; Sumisawa, K. ; Sumiyoshi, T. ; Tanaka, S. ; Tatishvili, G. ; Teramoto, Y. ; Tikhomirov, I. ; Trabelsi, K. ; Tsuboyama, T. ; Uchida, M. ; Uehara, S. ; Uglov, T. ; Unno, Y. ; Uno, S. ; Ushiroda, Y. ; Vahsen, S. E. ; Varner, G. ; Varvell, K. E. ; Vinokurova, A. ; Vorobyev, V. ; Wang, C. H. ; Wang, M.-Z. ; Wang, P. ; Watanabe, M. ; Watanabe, Y. ; Williams, K. M. ; Won, E. ; Yabsley, B. D. ; Yamamoto, H. ; Yamashita, Y. ; Yamauchi, M. ; Yusa, Y. ; Zhang, Z. P. ; Zhilich, V. ; Zupanc, A. ; Zyukova, O.
Published in Physical Review Letters
Volume 108
Issue 17
Pages 171802
Date 2012
Keywords
DOI https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.108.171802
Other identifier(s) View record in Web of Science
Laboratories LPHE
Record Appears in Scientific production and competences > SB - School of Basic Sciences > IPHYS - Institute of Physics > LPHE - High Energy Physics Laboratory
Peer-reviewed publications
Work produced at EPFL
Journal Articles
Published
Record creation date 2012-05-18

Actions