In situ core level and valence band photoelectron spectroscopy of reactively sputtered titanium aluminum nitride films
2001
Détails
Titre
In situ core level and valence band photoelectron spectroscopy of reactively sputtered titanium aluminum nitride films
Auteur(s)
Schueler, Andreas ; Oelhafen, Peter ; Francz, G. ; Zehnder, T. ; Düggelin, M. ; Mathys, D. ; Guggenheim, R.
Publié dans
Physical Review B
Volume
63
Numéro
11
Pages
115413/1-8
Date
2001
Laboratoires
LESO-PB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > ENAC - Faculté de l'environnement naturel, architectural et construit > IIC - Institut d'ingénierie civile > LESO-PB - Laboratoire d'énergie solaire et physique du bâtiment
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2012-05-04