Design-Oriented Characterization and Parameter Extraction Methodologies for the EKV3 MOSFET Model (invited)
2007
Détails
Titre
Design-Oriented Characterization and Parameter Extraction Methodologies for the EKV3 MOSFET Model (invited)
Présenté à
NSTI-Nanotech 2007, Workshop on Compact Modeling, Boston, Massachusetts, 20-24 May 2007
Date
2007
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Laboratoires
IEL
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Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > IEL - Institut de génie électrique et électronique
Présentations & Talks
Travail hors EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2011-01-06