Scaling Issues In An 0.15μm CMOS Technology With EKV3.0
2006
Détails
Titre
Scaling Issues In An 0.15μm CMOS Technology With EKV3.0
Auteur(s)
Kitonaki, E. ; Bazigos, A. ; Bucher, M. ; Puchner, H. ; Bhardwaj, S. ; Papananos, Y.
Publié dans
Proceedings of the International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and System, 2006. MIXDES 2006.
Pages
151-158
Présenté à
International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and System, 2006. MIXDES 2006., Gdynia, Poland
Date
2006
Editeur
IEEE
Laboratoires
IEL
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > IEL - Institut de génie électrique et électronique
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Travail hors EPFL
Papiers de conférence
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Date de création de la notice
2011-01-05