EKV3 Parameter Extraction and Characterization of 90nm RF-CMOS Technology
2007
Détails
Titre
EKV3 Parameter Extraction and Characterization of 90nm RF-CMOS Technology
Auteur(s)
Yoshitomi, S. ; Bazigos, A. ; Bucher, M.
Publié dans
2007 14th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems
Pages
74-79
Présenté à
2007 14th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Ciechocinek, Poland, 21-23 06 2007
Date
2007
Editeur
IEEE
Laboratoires
IEL
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > IEL - Institut de génie électrique et électronique
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
Date de création de la notice
2011-01-05