Multiwavelength High Resolution Interference Microscopy (HRIM) for the characterization of small size microlenes
2010
Détails
Titre
Multiwavelength High Resolution Interference Microscopy (HRIM) for the characterization of small size microlenes
Auteur(s)
Kim, Myun Sik ; Scharf, Toralf ; Herzig, Hans Peter
Présenté à
Annual Conference of Association des Scientiques Coréens en France (ASCoF), Rennes, France, May 14, 2010
Date
2010
Laboratoires
OPT
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Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > OPT - Laboratoire d'optique appliquée
Présentations & Talks
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2010-12-13