Analyse FX des diélectriques commerciaux [XRF analysis of commercial dielectrics]
Jacq, Caroline; Vionnet, Sonia; Maeder, Thomas
2004

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Abstract

Analyse des diélectriques commerciaux : fluorescence X, Infrared absorption, EDX, X-ray Diffraction. Détermination des éléments, déduction des composés par détermination des phases de ceux ci. Tout ceci afin de déterminer les éléments responsables de l’adhérence des TF sur acier et titane.

Details

Title Analyse FX des diélectriques commerciaux [XRF analysis of commercial dielectrics]
Author(s) Jacq, Caroline ; Vionnet, Sonia ; Maeder, Thomas
Pagination 3
Date 2004
Publisher EPFL-LPM
Keywords
Note Rapport interne EPFL-LPM
Additional link URL
Laboratories LPM
Record Appears in Scientific production and competences > STI - School of Engineering > STI Archives > LPM - Laboratory of Microengineering for Manufacturing
Work produced at EPFL
Technical Reports
Published
Record creation date 2010-12-04

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