Measurement of the Electroweak Penguin Process B→Xsℓ+ℓ-
Kaneko, J.; Abe, K.; Abe, K.; Abe, T.; Adachi, I.; Ahn, Byoung; Aihara, H.; Akatsu, M.; Asano, Y.; Aso, T.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Bakich, A.; Ban, Y.; Banas, E.; Bartel, W.; Bay, A.; Behera, P.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Brodzicka, J.; Browder, T.; Casey, B.; Chang, P.; Chao, Y.; Chen, K.-F.; Cheon, B.; Chistov, R.; Choi, Y.; Choi, Y.; Danilov, M.; Dong, L.; Eidelman, S.; Eiges, V.; Enari, Y.; Everton, C.; Fang, F.; Fujii, H.; Fukunaga, C.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gershon, T.; Guo, R.; Haba, J.; Handa, F.; Hara, T.; Harada, Y.; Hastings, N.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heenan, E.; Higuchi, I.; Higuchi, T.; Hinz, L.; Hojo, T.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Huang, H.-C.; Igaki, T.; Igarashi, Y.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Ishino, H.; Itoh, R.; Iwasaki, H.; Iwasaki, Y.; Jang, H.; Kang, J.; Kang, J.; Katayama, N.; Kawai, H.; Kawakami, Y.; Kawamura, N.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, D.; Kim, Heejong; Kim, H.; Kim, H.; Kim, Hyunwoo; Kim, S.; Kinoshita, K.; Kobayashi, S.; Korpar, S.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, S.; Kwon, Y.-J.; Lange, J.; Leder, G.; Lee, S.; Li, J.; Limosani, A.; Lu, R.-S.; Macnaughton, J.; Majumder, G.; Mandl, F.; Marlow, D.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Mitaroff, W.; Miyabayashi, K.; Miyabayashi, Y.; Miyake, H.; Moloney, G.; Mori, T.; Nagamine, T.; Nagasaka, Y.; Nakadaira, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nam, J.; Neichi, K.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Noguchi, S.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okabe, T.; Okuno, S.; Olsen, S.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Palka, H.; Park, C.; Park, H.; Park, K.; Perroud, J.-P.; Peters, M.; Piilonen, L.; Root, N.; Rybicki, K.; Sagawa, H.; Sakai, Y.; Sakamoto, H.; Satapathy, M.; Satpathy, A.; Schneider, O.; Schrenk, S.; Schwanda, C.; Semenov, S.; Senyo, K.; Seuster, R.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; Sidorov, V.; Singh, J.; Soni, N.; Stanič, S.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, K.; Suzuki, S.; Suzuki, S.; Swain, S.; Tajima, H.; Takahashi, T.; Takasaki, F.; Tamai, K.; Tamura, N.; Tanaka, J.; Tanaka, M.; Taylor, G.; Teramoto, Y.; Tokuda, S.; Tomoto, M.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Trischuk, W.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Uehara, S.; Ueno, K.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Varner, G.; Varvell, K.; Wang, C.; Wang, C.; Wang, J.; Wang, M.-Z.; Watanabe, Y.; Won, E.; Yabsley, B.; Yamada, Y.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yanai, H.; Yashima, J.; Yokoyama, M.; Yuan, Y.; Yusa, Y.; Zhang, C.; Zhang, J.; Zhang, Z.; Zheng, Y.; Zhilich, V.; Žontar, D.; The Belle Collaboration
2003
Details
Title
Measurement of the Electroweak Penguin Process B→Xsℓ+ℓ-
Author(s)
Kaneko, J. ; Abe, K. ; Abe, K. ; Abe, T. ; Adachi, I. ; Ahn, Byoung ; Aihara, H. ; Akatsu, M. ; Asano, Y. ; Aso, T. ; Aulchenko, V. ; Aushev, T. ; Bakich, A. ; Ban, Y. ; Banas, E. ; Bartel, W. ; Bay, A. ; Behera, P. ; Bondar, A. ; Bozek, A. ; Bračko, M. ; Brodzicka, J. ; Browder, T. ; Casey, B. ; Chang, P. ; Chao, Y. ; Chen, K.-F. ; Cheon, B. ; Chistov, R. ; Choi, Y. ; Choi, Y. ; Danilov, M. ; Dong, L. ; Eidelman, S. ; Eiges, V. ; Enari, Y. ; Everton, C. ; Fang, F. ; Fujii, H. ; Fukunaga, C. ; Gabyshev, N. ; Garmash, A. ; Gershon, T. ; Guo, R. ; Haba, J. ; Handa, F. ; Hara, T. ; Harada, Y. ; Hastings, N. ; Hayashii, H. ; Hazumi, M. ; Heenan, E. ; Higuchi, I. ; Higuchi, T. ; Hinz, L. ; Hojo, T. ; Hoshi, Y. ; Hou, W.-S. ; Huang, H.-C. ; Igaki, T. ; Igarashi, Y. ; Iijima, T. ; Inami, K. ; Ishikawa, A. ; Ishino, H. ; Itoh, R. ; Iwasaki, H. ; Iwasaki, Y. ; Jang, H. ; Kang, J. ; Kang, J. ; Katayama, N. ; Kawai, H. ; Kawakami, Y. ; Kawamura, N. ; Kawasaki, T. ; Kichimi, H. ; Kim, D. ; Kim, Heejong ; Kim, H. ; Kim, H. ; Kim, Hyunwoo ; Kim, S. ; Kinoshita, K. ; Kobayashi, S. ; Korpar, S. ; Križan, P. ; Krokovny, P. ; Kulasiri, R. ; Kumar, S. ; Kwon, Y.-J. ; Lange, J. ; Leder, G. ; Lee, S. ; Li, J. ; Limosani, A. ; Lu, R.-S. ; Macnaughton, J. ; Majumder, G. ; Mandl, F. ; Marlow, D. ; Matsumoto, S. ; Matsumoto, T. ; Mitaroff, W. ; Miyabayashi, K. ; Miyabayashi, Y. ; Miyake, H. ; Moloney, G. ; Mori, T. ; Nagamine, T. ; Nagasaka, Y. ; Nakadaira, T. ; Nakano, E. ; Nakao, M. ; Nam, J. ; Neichi, K. ; Nishida, S. ; Nitoh, O. ; Noguchi, S. ; Nozaki, T. ; Ogawa, S. ; Ohshima, T. ; Okabe, T. ; Okuno, S. ; Olsen, S. ; Onuki, Y. ; Ostrowicz, W. ; Ozaki, H. ; Pakhlov, P. ; Palka, H. ; Park, C. ; Park, H. ; Park, K. ; Perroud, J.-P. ; Peters, M. ; Piilonen, L. ; Root, N. ; Rybicki, K. ; Sagawa, H. ; Sakai, Y. ; Sakamoto, H. ; Satapathy, M. ; Satpathy, A. ; Schneider, O. ; Schrenk, S. ; Schwanda, C. ; Semenov, S. ; Senyo, K. ; Seuster, R. ; Shibuya, H. ; Shwartz, B. ; Sidorov, V. ; Singh, J. ; Soni, N. ; Stanič, S. ; Sumisawa, K. ; Sumiyoshi, T. ; Suzuki, K. ; Suzuki, S. ; Suzuki, S. ; Swain, S. ; Tajima, H. ; Takahashi, T. ; Takasaki, F. ; Tamai, K. ; Tamura, N. ; Tanaka, J. ; Tanaka, M. ; Taylor, G. ; Teramoto, Y. ; Tokuda, S. ; Tomoto, M. ; Tomura, T. ; Trabelsi, K. ; Trischuk, W. ; Tsuboyama, T. ; Tsukamoto, T. ; Uehara, S. ; Ueno, K. ; Uno, S. ; Ushiroda, Y. ; Varner, G. ; Varvell, K. ; Wang, C. ; Wang, C. ; Wang, J. ; Wang, M.-Z. ; Watanabe, Y. ; Won, E. ; Yabsley, B. ; Yamada, Y. ; Yamaguchi, A. ; Yamashita, Y. ; Yamauchi, M. ; Yanai, H. ; Yashima, J. ; Yokoyama, M. ; Yuan, Y. ; Yusa, Y. ; Zhang, C. ; Zhang, J. ; Zhang, Z. ; Zheng, Y. ; Zhilich, V. ; Žontar, D. ; The Belle Collaboration
Published in
Physical Review Letters
Volume
90
Issue
2
Pages
021801
Date
2003
ISSN
1079-7114
Laboratories
LPHE
Record Appears in
Scientific production and competences > SB - School of Basic Sciences > IPHYS - Institute of Physics > LPHE - High Energy Physics Laboratory
Peer-reviewed publications
Work produced at EPFL
Journal Articles
Published
Peer-reviewed publications
Work produced at EPFL
Journal Articles
Published
Record creation date
2010-11-05