Détails
Titre
A Comprehensive Study of Thermal Noise in the MOS Transistor
Auteur(s)
Enz, Christian C. ; Roy, Ananda S.
Publié dans
Symposium on Fluctuations and Noise - Noise in Devices and Circuits II
Série
SPIE Proceedings, 5470
Pages
84-95
Date
2004
Editeur
SPIE
Mots-clés (libres)
Laboratoires
LSI2
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSI2 - Laboratoire des systèmes intégrés (STI/IC)
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2010-06-24