Extended Charges Modeling for Deep Submicron CMOS
1999
Détails
Titre
Extended Charges Modeling for Deep Submicron CMOS
Auteur(s)
Bucher, M. ; Sallese, J.-M. ; Lallement, C. ; Grabinski, W. ; Enz, C. C. ; Krummenacher, F.
Publié dans
Proc. of the Int. Semiconductor Device Research Symp.
Pages
397-400
Date
1999
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > EDLAB - Group of Electron Device Modeling and Technology
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSI2 - Laboratoire des systèmes intégrés (STI/IC)
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2010-06-24