Fast Quality Control with Diffractive Micro-and Nanostructures
2009
Détails
Titre
Fast Quality Control with Diffractive Micro-and Nanostructures
Auteur(s)
Homsy, A. ; Rytka, C. ; Gobrecht, J. ; Pierer, J. ; Bosshard, C. ; de Rooij, N.F.
Présenté à
CTI Micro and Nano Technologies Event 2009, Neuchâtel, November 11, 2009
Date
2009
Laboratoires
SAMLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > SAMLAB - Laboratoire de capteurs, actuateurs et microsystèmes
Présentations & Talks
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2010-02-11