Characterization of small size microlenses by high resolution interference immersion microscopy
2009
Détails
Titre
Characterization of small size microlenses by high resolution interference immersion microscopy
Auteur(s)
Scharf, Toralf ; Kim, M.-S. ; Herzig, Hans Peter
Présenté à
15th Microoptics Conference (MOC 09), Tokyo, October 25-28 2009
Date
2009
Lien supplémentaire
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Laboratoires
OPT
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > OPT - Laboratoire d'optique appliquée
Présentations & Talks
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2010-01-22