Temperature-dependent low electric field charging of Si nanocrystals embedded within oxide–nitride–oxide dielectric stacks
2009
Détails
Titre
Temperature-dependent low electric field charging of Si nanocrystals embedded within oxide–nitride–oxide dielectric stacks
Auteur(s)
Nikolaou, N ; Dimitrakis, P ; Normand, P ; Schamm, Sylvie ; Bonafos, Caroline ; Ben Assayag, Gerard ; Mouti, Anas ; Ioannou-Sougleridis, V
Publié dans
Nanotechnology
Volume
20
Numéro
30
Pages
305704
Date
2009
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
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Date de création de la notice
2009-11-09