Comment on "Structural analysis of the SiO2/Si(100) interface by means of photoelectron diffraction"
2005
Détails
Titre
Comment on "Structural analysis of the SiO2/Si(100) interface by means of photoelectron diffraction"
Auteur(s)
Bongiorno, A. ; Pasquarello, A.
Publié dans
Physical Review Letters
Volume
94
Numéro
18
Pages
189601
Date
2005
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CSEA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > CSEA - Chaire de simulation à l'échelle atomique
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Date de création de la notice
2009-10-08