Axial sub-nanometer accuracy in digital holographic microscopy
2008
Détails
Titre
Axial sub-nanometer accuracy in digital holographic microscopy
Auteur(s)
Kühn, J. ; Charrière, F. ; Colomb, T. ; Cuche, Etienne ; Montfort, F. ; Emery, Yves ; Marquet, P. ; Depeursinge, Christian
Publié dans
Measurement Science and Technology
Volume
19
Numéro
7
Pages
074007 (8 pages)
Date
2008
Mots-clés (libres)
Autres identifiant(s)
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DAR: 12942
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URL
Laboratoires
LOA
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Date de création de la notice
2009-07-20