Near-field fluorescence imaging with 32 nm resolution based on microfabricated cantilevered probes
2000
Détails
Titre
Near-field fluorescence imaging with 32 nm resolution based on microfabricated cantilevered probes
Auteur(s)
Eckert, R. ; Freyland, J. M. ; Gersen, H. ; Heinzelmann, H. ; Schürmann, G. ; Noell, W. ; Staufer, U. ; de Rooij, N. F.
Publié dans
Applied Physics Letters
Volume
77
Pages
3695-3697
Date
2000
Note
226
Laboratoires
SAMLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > SAMLAB - Laboratoire de capteurs, actuateurs et microsystèmes
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Date de création de la notice
2009-05-12