Characterization and fabrication of fully metal coated Scanning Near-Field Optical Microscopy SiO2 tips
2003
Détails
Titre
Characterization and fabrication of fully metal coated Scanning Near-Field Optical Microscopy SiO2 tips
Auteur(s)
Aeschimann, L. ; Akiyama, T. ; Eckert, R. ; Heinzelmann, H. ; Staufer, U. ; de Rooij, N. F.
Publié dans
Journal of Microscopy
Volume
209
Numéro
3
Pages
182-187
Présenté à
NF07, The 7th International Conference on Near-field Optics and Related Techniques, University of Rochester, U.S.A., 11–15 August 2002
Date
2003
Laboratoires
SAMLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > SAMLAB - Laboratoire de capteurs, actuateurs et microsystèmes
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-05-12