Characterization of a MEMS-based VIS and near-IR Lamellar Spectrometer
2004
Détails
Titre
Characterization of a MEMS-based VIS and near-IR Lamellar Spectrometer
Auteur(s)
Manzardo, O. ; Schädelin, F. ; Herzig, H. P. ; Noell, W. ; de Rooij, N. F.
Publié dans
IEEE/LEOS International Conference on Optical MEMS 2004
Pages
44-45
Date
2004
Laboratoires
OPT
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > OPT - Laboratoire d'optique appliquée
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-04-22