Electronically scanned white-light interferometry : a novel noise-resistant signal processing
1992
Détails
Titre
Electronically scanned white-light interferometry : a novel noise-resistant signal processing
Auteur(s)
Dändliker, R. ; Zimmermann, E. ; Frosio, G.
Publié dans
Optics Letters
Volume
17
Pages
679-681
Date
1992
Laboratoires
OPT
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > OPT - Laboratoire d'optique appliquée
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2009-04-22