Détails
Titre
AC loss measurements in CICC with different aspect ratio
Auteur(s)
Cau, F. ; Bruzzone, P.
Publié dans
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Volume
19
Pages
2383-2386
Présenté à
ASC 2008 Applied Superconductivity Conference, Chicago, Illinois, USA, August 17-22, 2008
Date
2009
Editeur
IEEE
Mots-clés (libres)
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CRPP
SPC
SPC
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SPC - Swiss Plasma Center > SPC - Swiss Plasma Center
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2009-03-24