Comparison of ELNES and NEXAFS of Vanadium oxide V2O5 with different spectral resolutions
2002
Détails
Titre
Comparison of ELNES and NEXAFS of Vanadium oxide V2O5 with different spectral resolutions
Auteur(s)
Su, D. S. ; Hävecker, M. ; Knopp-Gericke, A. ; Mayer, R. ; Hébert, C. ; Schlögl, R.
Publié dans
Microscopy and Microanalysis
Volume
8
Numéro
2
Pages
602-603
Présenté à
Microscopy and Microanalysis 2002, Quebec City, Canada, August 4–8, 2002
Date
2002
Editeur
Cambridge University Press
Laboratoires
LSME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LSME - Laboratoire de spectrométrie et microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2009-02-18