EELS in materials science: Possibilities beyond microanalysis
2000
Détails
Titre
EELS in materials science: Possibilities beyond microanalysis
Auteur(s)
Schattschneider, P. ; Nelhiebel, M. ; Hébert, C. ; Weichselbaum, S. ; Schlosser, V. ; Jouffrey, B.
Publié dans
Microstructural investigation and analysis
Editeur(s)
Volume
4
Pages
65-70
Présenté à
EUROMAT 99 : EUROPEAN CONGRESS on Advanced Materials and Processes, Munich, 27-30 Sept. 1999
Date
2000
Editeur
Wiley
Laboratoires
LSME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LSME - Laboratoire de spectrométrie et microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2009-02-18