The orientation dependent simulation of ELNES
2000
Détails
Titre
The orientation dependent simulation of ELNES
Auteur(s)
Hébert-Souche, C. ; Louf, P. ; Blaha, P. ; Nelhiebel, M. ; Luitz, J. ; Schattschneider, P. ; Schwarz, K. ; Jouffrey, B.
Publié dans
Ultramicroscopy
Volume
83
Pages
9-16
Date
2000
Laboratoires
LSME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LSME - Laboratoire de spectrométrie et microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2009-02-17