Investigation of the Electric-Field Profile in Microcrystalline Silicon p-i-n Solar Cells by Cross-Sectional Scanning Kelvin Probe Microscopy
2007
Fichiers
Détails
Titre
Investigation of the Electric-Field Profile in Microcrystalline Silicon p-i-n Solar Cells by Cross-Sectional Scanning Kelvin Probe Microscopy
Auteur(s)
Dominé, D. ; Bailat, J. ; Python, M. ; Wyrsch, N. ; Ballif, C. ; Moutinho, H. R. ; Jiang, C.-S. ; Al-Jassim, M. M.
Date
2007
Note
IMT-NE Number: 470
Laboratoires
PV-LAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > PV-LAB - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > PV-Lab - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-02-10