Fast and Sensitive Defect Characterization and Spectral Response Measurement of Thin FIlm Silicon Solar Structures
2004
Fichiers
Détails
Titre
Fast and Sensitive Defect Characterization and Spectral Response Measurement of Thin FIlm Silicon Solar Structures
Auteur(s)
Poruba, A. ; Springer, J. ; Mullerova, L. ; Vanecek, M. ; Repman, T. ; Rech, B. ; Kuendig, J. ; Wyrsch, N. ; Shah, A.
Publié dans
3rd World Conference on Photovoltaic Energy Conversion
Pages
1631-1634
Date
2004
Note
IMT-NE Number: 368
Laboratoires
PV-LAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > PV-LAB - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > PV-Lab - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-02-10