Optical Determination of the Mass Density of Amorphous and Microcrystalline Silicon Layers with Different Hydrogen Contents
1998
Files
Détails
Titre
Optical Determination of the Mass Density of Amorphous and Microcrystalline Silicon Layers with Different Hydrogen Contents
Auteur(s)
Remes, Z. ; Vanecek, M. ; Torres, P. ; Kroll, U. ; Mahan, A. H. ; Crandall, R. S.
Publié dans
Journal of Non-Crystalline Solids
Volume
227-230
Pages
876-879
Date
1998
Note
IMT-NE Number: 271
Laboratoires
PV-LAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > PV-LAB - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > PV-Lab - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > PV-Lab - Laboratoire de photovoltaïque et couches minces électroniques
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2009-02-10