High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy
2008
Détails
Titre
High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy
Auteur(s)
Thibault, Pierre ; Dierolf, Martin ; Menzel, Andreas ; Bunk, Oliver ; David, Christian ; Pfeiffer, Franz
Publié dans
Science
Volume
321
Numéro
5887
Pages
379-382
Date
2008
Autres identifiant(s)
DAR: 12717
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Laboratoires
LSXC
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LSXC - Laboratoire de science des rayons X cohérents
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Date de création de la notice
2008-07-21