LACBED on partial dislocation dipoles in TiAl: experimental and simulations
1998
Détails
Titre
LACBED on partial dislocation dipoles in TiAl: experimental and simulations
Auteur(s)
Viguier, B. ; Schaeublin, R.
Publié dans
Proc. 11th European Congress on Electron Microscopy
Volume
2
Présenté à
11th European Congress on Electron Microscopy
Date
1998
Note
Proc. 11th European Congress on Electron Microscopy, EUREM '96, Dublin, Ireland, August 1996, Vol. 2, Ed. P. Hawkes, Published by the Committee of European Societies of Microscopy, Brussels, II.557-558 (1998)
Laboratoires
CRPP
SPC
SPC
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SPC - Swiss Plasma Center > SPC - Swiss Plasma Center
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2008-05-13