CTEM quantification of stacking fault tetrahedra in irradiated Cu
1998
Détails
Titre
CTEM quantification of stacking fault tetrahedra in irradiated Cu
Auteur(s)
Schaeublin, R. ; Dai, Y. ; Victoria, M.
Présenté à
Electron Microscopy 1998
Date
1998
Laboratoires
CRPP
SPC
SPC
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SPC - Swiss Plasma Center > SPC - Swiss Plasma Center
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2008-05-13