Dielectric properties characterization of La- and Dy-doped BiFeO3 thin films
2007
Fichiers
Détails
Titre
Dielectric properties characterization of La- and Dy-doped BiFeO3 thin films
Auteur(s)
Petrov, P. K. ; Palkar, V. R. ; Tagantsev, A. K. ; Chien, H. I. ; Prashanthi, K. ; Axelsson, A. K. ; Bhattacharya, S. ; Alford, N. M.
Publié dans
Journal of Materials Research
Volume
22
Numéro
8
Pages
2179-2184
Date
2007
Editeur
Cambridge University Press
ISSN
0884-2914
Note
National Licences
Laboratoires
LC
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LC - Laboratoire de céramique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2008-04-11