Cross-Sectional Atomic Force Imaging of Semiconductor Heterostructures
1996
Détails
Titre
Cross-Sectional Atomic Force Imaging of Semiconductor Heterostructures
Auteur(s)
Dwir, B. ; Reinhardt, F. ; Biasiol, G. ; Kapon, E.
Publié dans
Materials Science and Engineering B
Volume
37
Pages
83-88
Date
1996
Autres identifiant(s)
Afficher la publication dans Web of Science
Laboratoires
LPN
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPN - Laboratoire de physique des nanostructures
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2008-02-29