Cross-Sectional Atomic Force Microscopy of Semiconductor Nanostructures
1995
Détails
Titre
Cross-Sectional Atomic Force Microscopy of Semiconductor Nanostructures
Auteur(s)
Dwir, B. ; Reinhardt, F. ; Kapon, E.
Publié dans
Journal of Applied Physics
Volume
78
Pages
4939-4942
Date
1995
Autres identifiant(s)
Afficher la publication dans Web of Science
Laboratoires
LPN
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPN - Laboratoire de physique des nanostructures
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2008-02-29