A 90nm CMOS Cryptographic Core with Improved Fault- Tolerance in Presence of Massive Defect Density
2007
Détails
Titre
A 90nm CMOS Cryptographic Core with Improved Fault- Tolerance in Presence of Massive Defect Density
Auteur(s)
Stanisavljevic, M. ; Gürkaynak, F. K. ; Schmid, A. ; Leblebici, Y. ; Gabrani, M.
Publié dans
Proceedings of the International Conference on Nano-Networks, Nano-Net
Présenté à
International Conference on Nano-Networks, Nano-Net, Catania, Italy, September 24-26
Date
2007
Laboratoires
LSM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSM - Laboratoire de systèmes microélectroniques
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2008-01-08