Nonlinear reflectivity of semiconductor microcavities in the weak- and strong-coupling regimes: Experiment and theory
1998
Détails
Titre
Nonlinear reflectivity of semiconductor microcavities in the weak- and strong-coupling regimes: Experiment and theory
Auteur(s)
Bradley, A. L. ; Doran, J. P. ; Aherne, T. ; Hegarty, J. ; Stanley, R. P. ; Houdré, R. ; Oesterle, U. ; Ilegems, M.
Publié dans
Physical Review B
Volume
57
Numéro
16
Pages
9957-9964
Date
1998
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LOEQ - Laboratoire d'optoélectronique quantique
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > SCI-SB-RH - Group SCI SB RH
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
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Date de création de la notice
2007-08-31